SN74LVTH182512DGGR
- Herst.Teilenummer
- SN74LVTH182512DGGR
- Hersteller
- Texas Instruments
- Paket/Fall
- -
- Datenblatt
- Download
- Beschreibung
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
- Aktie:
- Auf Lager
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-
- Hersteller :
- Texas Instruments
- Produktkategorie :
- Logik - Speziallogik
- Logic Type :
- ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
- Mounting Type :
- Surface Mount
- Number of Bits :
- 18
- Operating Temperature :
- -40°C ~ 85°C
- Package / Case :
- 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
- Product Status :
- Active
- Supplier Device Package :
- 64-TSSOP
- Supply Voltage :
- 2.7V ~ 3.6V
- Datenblätter
- SN74LVTH182512DGGR
