SN74BCT8374ANTG4
- Herst.Teilenummer
- SN74BCT8374ANTG4
- Hersteller
- Texas Instruments
- Paket/Fall
- -
- Datenblatt
- Download
- Beschreibung
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
- Aktie:
- Auf Lager
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- Hersteller :
- Texas Instruments
- Produktkategorie :
- Logik - Speziallogik
- Logic Type :
- Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
- Mounting Type :
- Through Hole
- Number of Bits :
- 8
- Operating Temperature :
- 0°C ~ 70°C
- Package / Case :
- 24-DIP (0.300", 7.62mm)
- Product Status :
- Obsolete
- Supplier Device Package :
- 24-PDIP
- Supply Voltage :
- 4.5V ~ 5.5V
- Datenblätter
- SN74BCT8374ANTG4
