Bild Teil Hersteller Beschreibung MOQ Aktie Aktion
SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
IC SCAN-TEST-DEV/...
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SN74SSTV16859DGG Rochester Electronics, LLC
D FLIP-FLOP, SSTV...
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8V182512IDGGREP Texas Instruments
IC ABT SCAN TEST ...
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SN74SSTV16859DGGR Texas Instruments
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SN74SSTVF16859GR Texas Instruments
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SN74SSTVF16859GRG4 Texas Instruments
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74SSTV16859DGGRG4 Texas Instruments
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